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AEC-Q200 試驗條件

產品應用      產品應用   AEC-Q200 試驗條件 說明

AEC-Q200 試驗條件
說明:
AEC-Q200 的環境試驗條件,主要依據MIL-STD-202 JEDC22A-104規範來制定的.
不同零件的試驗溫度除了不一樣之外,其施加電源 (電壓,電流,負載) 要求也會有所不同.
高溫儲存屬於不施加徧壓與負載,但是在高溫工作壽命就需要,溫度循環與溫度衝擊,
其試驗目的與手法不一樣,在溫度循環中高低溫變化控制溫變率,溫衝擊則不用,徧高濕
度就是俗稱的高溫高濕試驗,而濕度抗就是濕冷涷試驗。
 
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溫度對電阻的影響

產品應用 溫度對電阻的影響

RS  電阻的產生 
 金屬由一群依一定規則排列原子構成,每顆原子均有一層 (或多層) 由電子組成的外売。這些在外売的電子能脫離原子核 
 的吸引力而到處流動,是金屬能導電的主要原因。當金屬兩端產生電勢差 (即電壓) 時,電子因電場的影晌而作規則的流 
 來源。動,是為電流。在現實中,物質的原子排列不可能為完全規則,因此電子在流動途中會被不按規則排列的原子打散,
 是為電阻的  高溫加速電子運動,增加電子被打散的機會,故熱的物體電阻較高。 
 橫切面面積大的金屬有較多空間予電子流動,故電阻較小。 
 電子橫過較長的金屬時一般會發生較多的碰撞,故長的金屬電阻較大。

Application  當溫度升高,為什麼半導體的電阻會下降﹖